AZ350工业DR平板摄影设备,是第一款 43 x 35 厘米的便携式 X 射线平板探测器,可用来替换现有放射成像中应用的标准胶片暗盒。此探测器旨在用于移动系统中,但也适合在现有的 14 x 17 英寸架成像系统中使用。4335DR 拥有 3052 x 2540 像素的有效区域。可用于透视铜管、陶瓷瓷杯、竹木制品、薄金属、工业元器件、纤维、塑料、橡胶等介质的检测,电子元件半导体元器件,BGA,IC芯片,CPU, 电子元件电热丝,发热盘,热敏电阻,电容,集成电路,电路板等无损检测.检测电子元件内部是否变形、脱焊;空焊等,还可用于塑料汽泡等检测, 数字放射成像 产品手册: 4336DR 数字放射成像(胸部) 有效区域: 43x36 厘米(17x14 英寸) &🍒nbsp; 像素大小: 139 微米 有效矩阵:෴ 3072 x 3072 填充因子: 100% 帧率: 6 - 8 秒 能量: 150 千伏
数字工业DR平板探测器 是一种X线直接转换技术,它利用硒作为X线检测器,成像环节少;DR是一种X线间接转换技术,它利用影像板作为X线检测器,成像环节相对DR较多。DR和将穿透被照射物体后的X线信息转化为数字信息,灰阶由胶片的256级提升至2048级、能在计算机中处理、因而可通过软件和功能实现图像的优化、图像质量大大提高。DR的核心技术是它的平板(FP)、采用一个带有碘化铯闪烁器的单片非结晶硅面板.将吸收的X光信号转换成可见光信号、再通过低噪声光电二极管阵列吸收可见光.并转换为电信号、然后通过低噪声读出电路将每个像素的数字化信号传送到图像处理器,由计算机将其集成为X线影像,以DOE为评价参数.因而其图像层次丰富、影像边缘锐利清晰,细微结构表现出色.CR则将信息首先记录在涂有氟化钡的IP板上.再通过扫描装置实现数字化转ℱ换,其曝光条件仍由所匹配的X线成像设备所限制.因而图像与DR相比略逊。CR的图像对比度和噪声的表现也不错.这可能与其摄影时使用较高的mAs有关。图像质量的提高提升了诊断医师的满意度,大大减少了的漏诊和误诊.同时用在工业无损检测成像上效果更加清晰 数字放射成像 产品手册: CR 暗盒替代品、 便携式数字放射成像 有效区域: 43x35 厘米(17x14 英寸)  ♌; 像素大小: 139 微米 有效矩阵: 3072 x 2560 填充因子: 100% 帧率: 8 - 10 秒 能量: 150 千伏 下载数据表:探测器 工业DR平板探测器,用于各类IC芯片、BGA、IGBT、LED、及其它电子元器件等的内部质量检测,及在线测试、智能判断和分拣等。用于元器件识别与计数,PCB电路焊接、文字印刷缺陷检测等。主要针对电子厂、电热丝厂、玩具厂、制药厂等厂家、生产商专门设计的专用检测设备。电子产品内部是否变形、脱焊、空焊的检测;塑胶件、铝件内是否有气孔气泡。电热丝、电容、热敏电阻内部结构无损检测.还可用于烟草检测。
便携式数字DR探测器拍摄效果果:是第一款 43 x 36 厘米的便携式 X 射线平板探测器,可用来替换现有放射成像中应用的标准胶片暗盒。此探测器旨在用于移动系统中,但也适合在现有的 14 x 17 英寸架成像系统中使用。4336DR 拥有 3052 x 2540 像素的有效区域。可用于透视瓷器、竹木制品、薄金属、工业元器件、纤维、塑料、橡胶等介质的检测,电子元件半导体元器件,BGA,IC芯片,CPU, 电子元件电热丝,发热盘,热敏电阻,电容,集成电路,电路板等无损检测.检测电子元件内部是否变形、脱焊;空焊等,还可用于塑料汽泡等检测, 数字放射成像 产品手册: 4336DR 数字放射成像(胸部) 有效区域: 43x36 厘米(17x14 英寸)♍ 像素大小: 139 微米 有效矩阵: 3072 x 3072 填充因子: 100% 帧率: 6 - 8 秒 能量: 150 千伏
X射线检测装置XDR-AZ350,是一款 43 x 36 厘米的便携式 X 射线平板探测器,可用来替换现有放射成像中应用的标准胶片暗盒。此探测器旨在用于移动系统中,但也适合在现有的 14 x 17 英寸架成像系统中使用。4336DR 拥有 3052 x 2540 像素的有效区域。可用于透视铜管、陶瓷瓷杯、竹木制品、薄金属、工业元器件、纤维、塑料、橡胶等介质的检测,电子元件半导体元器件,BGA,IC芯片,CPU, 电子元件电热丝,发热盘,热敏电阻,电容,集🦂成电路,电路板等无损检测.检测电子元件内部是否变形、脱焊;空焊等,还可用于塑料汽泡等检测, 仪器特点:X射线检测装置用于,孔径、测厚、连接器的微观形态测试等。仪器技术参数: 1、数字成像视场: 350X430mm2、像素间距:140um;(高分辨率成像系统)3、间距:200-600mm;4、A/D转换;16/bits5、空间分辨率;3.6.LP/mm(高分辨率)6、管电压:40-60kv;
数字DR探测器:新一代的数字X射线成像技术,其*明显的优势在于尺寸比影像增强器要小,重量轻,方便使用,利于安装。同时,技术先进,影像质量大幅提高,有效的解决了图像增强器中存在的各种问题(信号转换的损失、失真、色干扰、几何失真、亮度不一致),省却大量拍片洗片的繁琐工作及成本,使用寿命也优于图像增强器,优点是可与电脑联接.平板探测器具有160微米的像素间距和很宽的102成像范围,可以提供清晰、高分辨率诊断图像。噪声降低处理技术和多重频率处理技术有助于确保在LCD电脑上显示的图像具有适当对比度校准。例如,带有植入物的四肢图像会以高诊断精度显示骨小梁结构和软组织的微小细节。一、技术参数 有效区域: 43x36 厘米(17x14 英寸) 像素大小: 139 微米 有效矩阵: 3072 x 2560 🧜; 填充因子: 100% 帧率: 8 - 1✨0 秒 能量: 150 千伏
BJI-2手提式X光透视仪,主要针对电子元器件厂、电热丝厂、芯片厂、BGA、IC芯片、线缆、保险丝、冬虫夏草,半导体元器件、继电器.集成电路、电⛄路板、电子产品内部结构是否变形、脱焊、空焊等检测;同时用于玩具厂、鞋厂、制药厂等检测. 检测鞋产品、在生产中有铁钉、断针或其它金属异物不慎脱落掉入产品内的检测;还可用于: 塑胶件、铝件内是否有气孔气泡检测,是为生产商设计的,电子产品专用检测设备。 仪器采用ф80平板型显像板成像,采用ф0.3微焦点射线管集约束散射线。使用方便、安全、可靠。还可用于皮包、帆布包等各种箱包未指定的地方有铆针(钉)、针头等金属异物脱落其内的检测。二、仪器特点1、无需暗室,显示器同步显示观看; 2、高增益,高灵敏度,高空间分辨率,响应时间短;3、结构简单,体积小,重量轻,可手提使用; 4、射线剂量低,安全可靠,操作简便。三、技术参数1、视场:Φ80mm; 2、分辨率:56Ip/cm; 3、输出屏亮度:〉7cd/cm2 ;4、间距:300mm; 5、管电压:7꧒0-85kv; 6、管靶流:0.3-0.5mA;7、对比度:7%; 8、灰 度:8级; 9、漏射线:<5mR/h;10、主机重量:6kg; 11、电源:220VAC。12.高清灰度专业图像采集,USP连接电脑,即时成像,存储和打印检测效果图片.